零下30度低溫試驗(yàn)箱

簡(jiǎn)要描述：零下30度低溫試驗(yàn)箱該設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。

產(chǎn)品型號(hào)
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2024-11-09
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高低溫試驗(yàn)室

步入式高低溫濕熱試驗(yàn)房電子產(chǎn)品老化箱高低溫實(shí)驗(yàn)設(shè)備冷凍箱老化箱溫度變化的儀器恒溫機(jī) 冷熱循環(huán)測(cè)試箱恒溫老化試驗(yàn)箱交變溫度檢測(cè)設(shè)備高低溫老化試驗(yàn)箱溫度低溫箱實(shí)驗(yàn)溫箱大型高低溫試驗(yàn)室房高低溫測(cè)試機(jī) 恒定濕熱試驗(yàn)箱低溫試驗(yàn)箱高低溫交變?cè)囼?yàn)箱高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱深圳高低溫濕熱箱高低溫交變循環(huán)試驗(yàn)箱可程式高低溫試驗(yàn)箱

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詳細(xì)介紹

品牌	愛佩科技/A-PKJ	價(jià)格區(qū)間	1萬(wàn)-2萬(wàn)
產(chǎn)地類別	國(guó)產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	文體,電子/電池,紡織/印染

零下30度低溫試驗(yàn)箱該設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
按照下列標(biāo)準(zhǔn)或其結(jié)合為依據(jù)而制造：
GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
零下30度低溫試驗(yàn)箱主要技術(shù)指標(biāo)：
1、溫度范圍：-70℃、-40℃、-20℃、0℃～+150℃
2、溫度波動(dòng)度：±0.5℃
3、溫度偏差：≤2℃
4、升溫時(shí)間：每分鐘約3℃（非線性空載）
5、降溫時(shí)間：每分鐘約1℃（非線性空載）
安全保護(hù)裝置：
1、電源超載、控制回路過(guò)載、短路保護(hù)
2、接地保護(hù)、電機(jī)過(guò)載保護(hù)
3、超溫保護(hù)
4、為保護(hù)設(shè)備,所有報(bào)警均會(huì)自動(dòng)切斷電源，并發(fā)出聲訊提示。

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