PCB電路板高低溫老化試驗箱電路板高低溫老化試驗箱

簡要描述：PCB電路板高低溫老化試驗箱電路板高低溫老化試驗箱用途：
1.適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗；

產(chǎn)品型號AP-GD
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時間2024-11-05
訪問量2098

產(chǎn)品咨詢聯(lián)系我們

產(chǎn)品分類

Product Category

高低溫試驗室

步入式高低溫濕熱試驗房電子產(chǎn)品老化箱高低溫實驗設(shè)備冷凍箱老化箱溫度變化的儀器恒溫機(jī) 冷熱循環(huán)測試箱恒溫老化試驗箱交變溫度檢測設(shè)備高低溫老化試驗箱溫度低溫箱實驗溫箱大型高低溫試驗室房高低溫測試機(jī) 恒定濕熱試驗箱低溫試驗箱高低溫交變試驗箱高低溫交變濕熱試驗箱深圳高低溫濕熱箱高低溫交變循環(huán)試驗箱可程式高低溫試驗箱

查看全部

相關(guān)文章

詳細(xì)介紹

品牌	愛佩科技/A-PKJ

PCB電路板高低溫老化試驗箱電路板高低溫老化試驗箱用途：
1.適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗；
2.是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備；
3.特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗。
PCB電路板高低溫老化試驗箱電路板高低溫老化試驗箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)：
1.GB/T10589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件；
2.GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術(shù)條件；
3.GB2423.1-89低溫試驗Aa，Ab ；
4.MIL-STD810D方法502.2；
5.GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序3；
技術(shù)參數(shù)：
內(nèi)箱尺寸：寬600×高850×深800（mm）；外箱尺寸約：寬1150×高1850×深1280（mm）
更多容積可選擇：80升/100升/120升/150升/225升/408升/800升/1000升等非標(biāo)尺寸還可以非標(biāo)定制
溫度范圍：-70℃~150℃
更多溫度范圍可以選擇：A：0℃~150℃；B：-20℃~150℃；C：-40℃~150℃；D：-70℃~150℃
溫度波動度：±0.5℃；溫度均勻度≤2.0℃
升溫時間：平均約3.0℃/min（非線性空載）
降溫時間：平均約0.7℃~1.2℃/min非線性空載）
電源電壓：AC220V或者AC380V,50Hz（±10%）可選擇。
制冷系統(tǒng)：
制冷機(jī)采用原裝“泰康”全封閉壓縮機(jī)。
冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計。
采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測試區(qū)域內(nèi)溫濕度分布均勻。
風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計，風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開門瞬間溫濕度回穩(wěn)時間快。
升溫、降溫、加濕系統(tǒng)*獨立可提高效率，降低測試成本，增長壽命，減低故障率。

產(chǎn)品咨詢

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細(xì)地址：
補(bǔ)充說明：
驗證碼：

請輸入計算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

上一篇：AP-GD實驗室高低溫試驗室
下一篇：AP-HX實驗室高低溫濕熱測試箱子|實驗室高低溫試驗箱子

PCB電路板高低溫老化試驗箱電路板高低溫老化試驗箱

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細(xì)地址：

補(bǔ)充說明：

驗證碼：